日本东京测量技术展览会
日本东京测量技术展览会
IIFES

2027年11月24日~11月26日

开闭馆时间 9:00-18:00

展馆名称日本东京有明国际展览中心

主办单位一般社団法人 日本電機工業会(JEMA)

展会规模28000m²

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展品范围

环境检测与分析:空气质量监测:颗粒物、有害气体、VOCs(挥发性有机化合物)分析仪。水质测试:重金属、微生物、放射性物质检测设备。土壤污染评估:土壤成分、重金属含量、有机污染物测定。

工业过程测量:压力、温度、流量仪表:传感器、变送器、记录仪。振动与噪声测量:振动分析仪、声级计、频谱分析器。物位检测:雷达液位计、超声波测厚仪、激光距离传感器。

实验室设备:生化分析:PCR扩增仪、酶标仪、凝胶成像系统。微量天平、显微镜、离心机。样品前处理设备:冷冻干燥机、均质器、萃取装置。

光学与光谱学仪器:光谱分析:紫外可见光谱仪、红外光谱仪、荧光光谱仪。显微镜附件:偏振片、CCD相机、图像处理软件。

计量与校准:计量标准器具:长度、质量、电学、温度基准。校准服务、认证机构、计量软件。

遥感与地理信息系统:卫星影像解析、无人机航拍系统。GIS地图绘制、空间数据分析。

健康与安全:辐射监测:个人剂量计、场所辐射水平监测。工业卫生:听力保护、呼吸器、化学品泄漏检测。

科研教育:学术出版、科学数据库访问。教育软件、教学模型、实验套件。

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