忱芯科技闪耀深圳国际电子展-引领功率半导体测试创新

在8月23日至25日举行的Elexcon深圳国际电子展上，功率半导体测试领域的创新领导者——忱芯科技，携其全套测试解决方案惊艳亮相（展位号：1C56）。与此同时，公司创始人毛赛君博士受邀出席了同期举办的“2023深圳国际第三代半导体与应用论坛”，并发表了题为“碳化硅功率半导体器件精准动静态特性与可靠性测试解决方案”的专题报告，展现了忱芯科技在功率半导体测试领域的深厚积累和前瞻视野。

应用导向的测试解决方案

随着新能源产业的蓬勃发展，第三代半导体材料因其卓越的高功率特性而备受业界瞩目。特别是在新能源汽车、新能源发电等电力电子系统中，SiC MOSFET的应用日益广泛，以碳化硅为核心的800V强电系统正逐步在主驱逆变器、电机驱动系统、DC-DC转换器、车载充电机（OBC）及充电桩等领域实现规模化应用。面对这些核心功率模块，如何进行精准、可靠的测试和筛选成为了业界关注的焦点。

忱芯科技创始人毛赛君博士在报告中深入探讨了以新能源汽车应用为导向的碳化硅功率半导体器件的关键特性、应用挑战及发展趋势。他详细介绍了忱芯科技在精准动静态特性表征测试及可靠性测试方面的关键技术，并推出了针对碳化硅功率半导体器件的全面测试解决方案，涵盖了栅极氧化层可靠性、双极型退化可靠性以及DHTOL可靠性测试等多个方面。

Edison & Maxwell 动静态测试系统

针对功率半导体的车规级应用，忱芯科技研发了SiC/IGBT功率半导体器件动静态测试系统，该系统在测试准确性和可靠性方面取得了显著突破。通过采用先进叠层电容母排（小于10nH），该系统能够进行比实际应用工况更严格的动态特性测试；同时，配备经过应用验证的高速、高频、高可靠数字驱动电路（CMTI高达200V/μs）和高速固态保护开关，从响应到完全切断电流时间小于2μs，确保了测试的高可靠性和强保护。

此外，该系统还实现了对功率模块内部所有开关器件的一键全自动化测试，无需更换测试母排、工装及驱动电路板，大大提高了测试效率。静态测试系统则通过理论分析与精准电磁建模，最大限度地降低了测试线路寄生阻抗对静态特性参数测试的影响，确保了测试精度。

新一代SiC MOSFET动态可靠性测试系统

针对SiC MOSFET功率器件的特殊需求，忱芯科技推出了新一代动态可靠性测试系统。该系统能够模拟实际应用中的开关运行条件，对SiC MOSFET进行高温动态高频交流测试，从而全面评估其可靠性。该系统支持DHTGB/DHTRB/DH3TRB等多种动态可靠性测试，并已成功交付多家SiC MOSFET企业使用。

该系统的亮点包括高dV/dt栅极和漏极应力发生器、高开关频率、一机多用以及高可靠性等。通过预留示波器接口，该系统还支持波形监测，可随时监控测试过程中的波形变化。

关于忱芯科技

忱芯科技专注于提供SiC&GaN宽禁带功率半导体器件及高性能硅基IGBT功率半导体器件的实验室版与产线版全系列ATE测试系统。公司凭借对碳化硅功率半导体特性精准表征与测试及高频电力电子应用的深刻理解，成功开发了多个行业首台套产品，性能领先业界。

目前，忱芯科技的碳化硅ATE设备已实现批量出货，成功交付给功率半导体IDM企业、芯片设计公司、功率器件封装公司以及新能源车厂及Tier1企业等。其产品覆盖动态测试系统、静态测试系统、单管功率器件动静态测试一体机系统、动态可靠性测试系统、车规级连续功率无功老化测试系统以及DHTOL功率半导体器件带载老化测试系统等，从实验室到产线应用全面覆盖，助力功率半导体及新能源领域企业实现精准、可靠、高性价比的测试需求。